什么是導(dǎo)電陽極絲測試CAF導(dǎo)電陽極絲測試（Conductiveanodicfilamenttest,，簡稱CAF）是電化學(xué)遷移的其中一種表現(xiàn)形式。它與表面樹狀生長的區(qū)別：1.產(chǎn)生遷移的金屬是銅,，而不是鉛或者錫,；2.金屬絲是從陽極往陰極生長的；3.金屬絲是由金屬鹽組成,，而不是中性的金屬原子組成,。焊盤中的銅金屬是金屬離子的主要來源，在陽極電化學(xué)生成,，并沿著樹脂和玻璃增強纖維之間界面移動,。隨著時代發(fā)展和技術(shù)的革新，PCB板上出現(xiàn)CAF的現(xiàn)象卻越來越嚴重,，究其原因,，是因為現(xiàn)在電子設(shè)備上的PCB板上需要焊接的電子元件越來越多，這樣也就造成了PCB板上的金屬電極之間的距離越來越短,，這樣就更加容易在兩個金屬電極之間產(chǎn)生CAF現(xiàn)象,。SIR表面絕緣電阻測試的目的之一：變更回流焊或波峰焊工藝。浙江多功能電阻測試供應(yīng)商

電阻測試

ROSE是用2-丙醇和水溶液,，通過手工,、動態(tài)和靜態(tài)三種方法萃取板表面的任何殘留物。通常是將整個板子浸入溶液中,，然后測量這種萃取物的電阻率,，測量值由板子表面所有可溶性離子種類的離子含量決定,。每種萃取方法在如何準確地實現(xiàn)這一過程上各不相同。通常,，測試電阻率是不夠的,，因為它不能區(qū)分是哪些離子導(dǎo)致萃取電阻率下降。為了評估哪些離子存在,，必須進行額外的離子色譜檢測,。通過允許操作人員從過程中識別離子含量的來源，來完成測試,。此外,，過程控制從組裝工藝的開始就要進行，線路板和元器件的進廠清潔度與組裝的終清潔度同樣重要,。這也可以通過一種能夠在較小規(guī)模上從表面萃取的測試方法更有效地實現(xiàn),。浙江多功能電阻測試供應(yīng)商廣州維柯GWHR-256 產(chǎn)品優(yōu)勢：結(jié)構(gòu)、配置靈活：板卡設(shè)計,，可選擇 16 路N(1≥N≤16),。

助焊劑等級分類所有的測試完成后，編輯L,、M和H的測試數(shù)據(jù),，所有測試數(shù)據(jù)的比較高值決定助焊劑的等級。例如,，一款助焊劑的活性等級要定為L,，就需要五項測試中每個結(jié)果都是L_才可以。每個測試從不同的角度來量化電遷移的傾向性,。ECM和SIR測試接近組裝產(chǎn)品在使用壽命時間里容易產(chǎn)生電化學(xué)遷移的情況,。它們都是在更高的溫濕度下進行加速測試，并且發(fā)展成為表明可靠性的一種標準,。當(dāng)前SIR測試方法擅長用標準化的方式測試電化學(xué)遷移的傾向性,。這種測試更接近真實失效機理。由于監(jiān)測頻率的關(guān)系,，這種測試能夠捕捉到絕緣電阻的波動,。這種波動可能表示枝晶形成然后又溶解了。這就可以不依賴于災(zāi)難性故障來指示潛在的問題,。

有數(shù)據(jù)統(tǒng)計90%以上的電阻在大氣環(huán)境中使用[1],，因此不可避免地受到工作環(huán)境中的溫度、濕度,、灰塵顆粒及大氣污染物的影響,，很容易發(fā)生電化學(xué)遷移。電化學(xué)遷移被認為是電阻在電場與環(huán)境作用下發(fā)生的一種重要的失效形式,，會導(dǎo)致產(chǎn)品在服役期間發(fā)生漏電,、短路等故障,。1失效分析某一批智能水表上的電路板使用大約2年后其內(nèi)部電阻存在短路失效的情況。1.1機械開封機械開封后1#電阻樣品表面形貌如圖1所示,，可明顯發(fā)現(xiàn)電阻表面有一層金屬光澤異物粘附，異物呈樹枝狀結(jié)晶,，由一端電極往另一端電極方向生長,，并連接了電阻兩端電極；一端電表表面發(fā)生溶解,，且溶解的端電極表面存在黑色腐蝕產(chǎn)物,。通過表面絕緣電阻（SIR）測試數(shù)據(jù)可以直接反映PCB的清潔度。

為SAC305開發(fā)了加熱曲線,，其熔點范圍為217–220°C,。針對相似的工藝窗口的四種回流曲線，分別為標準回流曲線,、模擬返修站的自然(快速)冷卻曲線,、自然冷卻條件下的較低峰值曲線，以及延長冷卻條件下的低峰值曲線,。圖4中所示的爐溫曲線是由一臺爐溫測試儀測試的回流爐的曲線,，和由電偶測量的返工臺的曲線。返修工位曲線升溫時間更短,，為了便于峰位和TAL的比較,，對溫度曲線進行了輕微的偏移。為SAC305開發(fā)了加熱曲線,，其熔點范圍為217–220°C,。針對相似的工藝窗口的四種回流曲線，分別為標準回流曲線,、模擬返修站的自然(快速)冷卻曲線,、自然冷卻條件下的較低峰值曲線，以及延長冷卻條件下的低峰值曲線,。圖4中所示的爐溫曲線是由一臺爐溫測試儀測試的回流爐的曲線,，和由電偶測量的返工臺的曲線。返修工位曲線升溫時間更短,，為了便于峰位和TAL的比較,，對溫度曲線進行了輕微的偏移。接口友好：軟件可定制,，或開放數(shù)據(jù)接口,，或接入實驗室LIMS系統(tǒng)。浙江多功能電阻測試供應(yīng)商

摒棄老的設(shè)備系統(tǒng)集成觀念,！浙江多功能電阻測試供應(yīng)商

失效機理分析及防護策略結(jié)合以上結(jié)果,，電阻失效是由于經(jīng)典電化學(xué)遷移引起（ElectrochemicalMigration,ECM）,。其中失效模型包含Ag、Sn,、Pb等金屬元素,，指的是在一定的偏壓電場條件下，作為陽極的電子元件發(fā)生陽極金屬溶解,，溶解到電解質(zhì)中的金屬離子在電場作用下遷移到陰極,，并發(fā)生沉積還原的行為，終導(dǎo)致金屬離子以樹枝狀結(jié)晶形式向陽極生長[6],。因此電化學(xué)遷移現(xiàn)象有三個必要的過程：(1)陽極溶解形成金屬離子過程,；(2)金屬離子遷移過程；(3)金屬離子在陰極沉積過程[7],。浙江多功能電阻測試供應(yīng)商

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